金属镀层测量(Al13 – U92)
Bowman芝加哥全方位服务标准实验室已通过ISO/IEC 17025:2017校准认可。
查看 认证证书和范围 。
XRF膜厚测量:
↘ 满足IPC4552/4556要求
↘ 金属镀层厚度,元素分析,电镀液分析
↘ 快速无损测量,检测下限低至1nm
↘ 满足常规应用的准直器机型
↘ 可测量微米级别区域的微区毛细管机型
↘ 可选配RoHS筛选分析
↘ 可符合SEMI S2,S8规定
金属镀层测量(Al13 – U92)
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↘ 金属镀层厚度,元素分析,电镀液分析
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↘ 满足常规应用的准直器机型
↘ 可测量微米级别区域的微区毛细管机型
↘ 可选配RoHS筛选分析
↘ 可符合SEMI S2,S8规定