金属镀层测量（Al13 – U92）
可透光层厚度测量
德国应用光谱膜厚仪，运用白光干涉原理，可实现非接触、无损的可透光层厚度测量：可实现单层、双层、甚至三层的厚度测量。
Bowman XRF膜厚分析技术：
↘ 满足IPC4552/4556要求
↘ 金属镀层厚度，元素分析，电镀液分析
↘ 快速无损测量，检测下限低至1nm
↘ 满足常规应用的准直器机型
↘ 可测量微米级别区域的微区毛细管机型
↘ 可选配RoHS筛选分析
↘ 可符合SEMI S2，S8规定
等离子体发射态实时监控
德国应用光谱光学纤维耦合TranSpec过程光谱仪，在整个UV...NIR光谱范围对PVD等离子体实施同步实时监控。
无损涡流技术，测量金属薄膜厚度
适用于半导体、光伏，车灯车标等行业PVD 薄膜厚度测量
- 可实现非接触式测量
- 坚固耐用
- 快速测量
- 高重复性和准确性
- 能够透过封装和保护层进行测量
- 可测量封装或保护层底下的金属层
- 测量范围广（可定制不同配置，实现2纳米至2毫米的厚度测量范围）
